MVS-729F,采用高效自主算法,由高性能工業(yè)控制器、高清工業(yè)相機(jī)陣列構(gòu)成,有效的提高了生產(chǎn)效率與保障了產(chǎn)品的一致性,其具有如下特征
◆ 基于先進(jìn)的軟件開發(fā)環(huán)境、高效自主圖形算法,安全、可靠
◆ 高性能工業(yè)控制器與工業(yè)相機(jī)陣列,檢測(cè)效率高、精度高
◆ 方便的維護(hù)艙門、推拉裝置和安全鎖
◆ 定制尺寸,適于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)與運(yùn)輸
◆ 檢測(cè)液晶模組的點(diǎn)、線、面缺陷與外觀損傷
◆ 單項(xiàng)缺陷檢測(cè)算法達(dá)到毫秒級(jí)
◆ 檢測(cè)大尺寸液晶模組
◆ 可檢測(cè)Mura、漏光等業(yè)內(nèi)高難度缺陷
液晶模組檢測(cè)技術(shù)規(guī)格表 |
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類別 |
項(xiàng)次 |
機(jī)器視覺設(shè)備選型 |
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基本型 |
增強(qiáng)型 |
豪華型 |
定制項(xiàng) |
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檢測(cè)指標(biāo) |
檢測(cè)精度 |
像素級(jí) |
子像素級(jí) |
1/2子像素 |
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整體檢測(cè)時(shí)間,備注 |
6s |
4s |
3s |
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點(diǎn)缺陷 |
單亮點(diǎn) |
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連亮點(diǎn) |
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碎亮點(diǎn) |
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單暗點(diǎn) |
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連暗點(diǎn) |
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聚焦暗點(diǎn) |
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線缺陷 |
黑線 |
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白條 |
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線狀異物 |
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面缺陷 |
黑團(tuán) |
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白團(tuán) |
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氣泡 |
V |
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凹痕 |
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異物 |
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Mura |
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漏光 |
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外觀缺陷 |
破裂 |
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劃痕 |
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Logo |
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功能缺陷 |
閃動(dòng) |
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網(wǎng)紋 |
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亮線 |
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暗線 |
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功能不良 |
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注:如上“√”表示支持 |